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SIMS Oberflächenanalysen

SIMS ist eine hochempfindliche Technik zur Oberflächenanalyse zur Bestimmung der Oberflächenzusammensetzung, Kontaminationsanalyse und Tiefenprofilanalyse in den obersten Schichten einer Probe.

Angewandt auf die ersten Mikrometer der Oberfläche ermöglicht das Hiden SIMS System die Tiefenprofilanalyse mit einer Tiefenauflösung von 5 Nanometern.

Die Hiden SIMS Workstation ermöglicht leistungsstarke statische und dynamische SIMS Anwendungen zur genauen Analyse der Oberflächenkomposition und Tiefenprofilierung.

Hiden’s elementare SIMS Bildgebungseinrichtung ermöglicht hochauflösende chemische Oberflächenkartierung.

Hiden Komponenten sind als Nachrüstsystem erhältlich für die nachträgliche Erweiterung bestehender Oberflächenanalysesysteme mit der SIMS Technik.

 

 

Produkte

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SIMS Workstation

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Broschüren

icon Massenspektrometer für Dünne Schichten, Plasma und Oberflächenwissenschaften (1.03 MB)

icon MAXIM Quadrupol SIMS Analysator (561.59 kB)

icon SIMS Broschüre TI 181 (669.66 kB)

icon SIMS Broschüre TI 181 HiRes (5.5 MB)

   

Poster

icon Hochleistungs-SIMS - Massen- und Energieanalysator für SIMS (DIN A2) (584.66 kB)

icon Hochleistungs-SIMS - Massen- und Energieanalysator für SIMS (DIN A3) (339.8 kB)  

 

Präsentationen

icon IMP Endpunktdetektionssystem für Ionenätzanwendungen (277.87 kB)

icon Niedrigenergetische Ne Streuung von Metalloberflächen durch Verwendung von MARISS (321.25 kB)

icon SIMS - Bilder (2.17 MB)

icon SIMS Workstation & Anbausysteme (4.22 MB)    

 

Applikationshinweise

icon Energetische (Schnell) Analyse von Neutralen Teilchen (84.43 kB)

icon EQP/EQS Zeitaufgelöste Studien in Ionenstrahl- und Plasmaprozessen (245.57 kB)

icon EQS vs. EPIC - Ionenenergie-Verteilungsfunktion (270.08 kB)

icon SIMS - Glasbeschichtung (29.24 kB)

icon Sekundär-Neutralteilchen-Analyse (300.59 kB)

icon SIMS - Analyse von Semiconductor Kontakt-Pads (492.17 kB)

icon SNMS - Tiefenprofile einer Hard Disk Oberfläche (559.39 kB)

icon SNMS - Magnetische Schichten (88.44 kB)

icon Tour durch die Hiden SIMS Workstation (6.07 MB)    

 

Technische Informationen

icon EQS 1000 Serie - Zeichnung (78.62 kB)

icon EQS 300/500 Serie - Zeichnung (52.17 kB)

icon SIMS Imaging FoV - Zeichnung (60.02 kB)

   

Produktspezifikationen

icon IG20 Ionenkanone für Dynamische SIMS (60.37 kB)